H12探針臺(tái)具有優(yōu)異的機(jī)械性能和的測(cè)試功能,其卡盤移動(dòng)技術(shù),可滿足客戶對(duì)整片晶圓高效測(cè)試的需求;同時(shí)基于UPStart?模塊化開(kāi)放式設(shè)計(jì),H系列可搭配不同的套件實(shí)現(xiàn)更寬泛的測(cè)試功能,H系列6" 8" 12"探針臺(tái)非常適合研發(fā)類實(shí)驗(yàn)室的一次性預(yù)算購(gòu)置。
H12綜合型手動(dòng)探針臺(tái)
H12探針臺(tái)具有優(yōu)異的機(jī)械性能和的測(cè)試功能,其卡盤移動(dòng)技術(shù),可滿足客戶對(duì)整片晶圓高效測(cè)試的需求;同時(shí)基于UPStart?模塊化開(kāi)放式設(shè)計(jì),H系列可搭配不同的套件實(shí)現(xiàn)更寬泛的測(cè)試功能,H系列6" 8" 12"探針臺(tái)非常適合研發(fā)類實(shí)驗(yàn)室的一次性預(yù)算購(gòu)置。
產(chǎn)品型號(hào) | H12 | 工作環(huán)境 | 開(kāi)放式 |
電力需求 | 220V,50~60Hz | 操控方式 | 手動(dòng)探針臺(tái) |
產(chǎn)品尺寸 | 1046MM長(zhǎng)*987MM寬*828MM高 | 設(shè)備重量 | 約400KG |
DC 直流/(IV、CV)測(cè)試、低電流(100fA 級(jí))測(cè)試、1/f 噪聲測(cè)試、FA 失效分析測(cè)試、器件表征測(cè)試、WLR 可靠性、老化測(cè)試、RF 射頻測(cè)試、大功率/大電流及/大電壓測(cè)試等。
氣控式移動(dòng)平臺(tái)具備快速移動(dòng)卡盤功能,滿足高效手動(dòng)測(cè)試需要。通過(guò)對(duì)應(yīng)的氣浮開(kāi)關(guān),提供3種快速移動(dòng)方式:?jiǎn)问挚刂芚/Y方向快速移動(dòng),雙手控制樣品臺(tái)全平面快速移動(dòng)。傳統(tǒng)的滾珠/軸承式樣品臺(tái)僅能實(shí)現(xiàn)X/Y軸單向運(yùn)動(dòng),而且移動(dòng)速度較慢;普通的氣浮式樣品臺(tái)雖然能夠?qū)崿F(xiàn)樣品臺(tái)全平面快速移動(dòng),卻不能實(shí)現(xiàn)X/Y軸單向精準(zhǔn)移動(dòng)定位,滿足生產(chǎn)實(shí)測(cè)需要。而3重氣控式樣品臺(tái)完美的結(jié)合并實(shí)現(xiàn)了以上兩種功能。
卡盤移動(dòng)平臺(tái)配有粗調(diào)與精調(diào)功能,相比于傳統(tǒng)的小型微分頭調(diào)節(jié),操作手感更舒適、調(diào)節(jié)更順暢且無(wú)回程差,真正實(shí)現(xiàn)超順滑的手動(dòng)高效測(cè)試,全面提升測(cè)試效率,節(jié)約客戶測(cè)試成本。
顯微鏡采用氣控式調(diào)節(jié)可實(shí)現(xiàn)50mm升降,通過(guò)高品質(zhì)閥門控制,高壓空氣進(jìn)出節(jié)流精細(xì)調(diào)節(jié),實(shí)現(xiàn)顯微鏡平穩(wěn)的升降,實(shí)現(xiàn)方便更換物鏡的同時(shí),更好的防護(hù)物鏡與夾具在測(cè)試中的意外接觸損傷。
針座平臺(tái)升降:快速(0,300um,3mm)+微調(diào)(40mm,移動(dòng)分辨率2~5um),Platen所有部分能夠同時(shí)升降(不存在不同時(shí)的現(xiàn)象),升起回落后探針在pad上針痕的x,y,z三個(gè)方向的重復(fù)性優(yōu)于±1um,可重復(fù)(1μm)的針座平臺(tái)有三個(gè)離散位置,用于接觸,分離(300μm)和裝載(3mm),并帶有安全鎖裝置,可防止探頭或晶圓意外損壞的同時(shí),提供直觀的控制和準(zhǔn)確的接觸定位。
多波段激光切割系統(tǒng)能夠加載在絕大多數(shù)應(yīng)用于失效分析的顯微鏡上,可以實(shí)現(xiàn)微觀層面的精確切割和選擇性材質(zhì)去除。精密可靠的先進(jìn)激光傳輸系統(tǒng)(ABDS)可以選擇不同波段應(yīng)對(duì)不同材料裁剪和切割工作。鐳射最大輸出能量≥2.7mJ,能量可調(diào)整級(jí)數(shù)≥300。水循環(huán)冷卻結(jié)構(gòu)使系統(tǒng)更小巧和無(wú)需維護(hù)。